描述：晶圓鍍層X射線熒光測厚儀，測厚儀，金屬合金元素分析儀，不銹鋼牌號檢測儀器，ROHS檢測儀器、rohs檢測儀、元素分析儀、x熒光光譜儀、液相色譜儀、分光光度計(jì)、X射線熒光光譜儀(XRF)、手持式便攜式礦石分析儀、古董鑒定儀、玩具安全檢測儀、鹵素ROHS檢測儀、電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀、原子熒光光譜儀、氣相色譜儀、液相色譜
| 品牌 | SKYRAY/天瑞儀器 | 價(jià)格區(qū)間 | 10萬-20萬 |
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| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,建材/家具,電子/電池,電氣,綜合 |
晶圓鍍層X射線熒光測厚儀應(yīng)用領(lǐng)域
電鍍行業(yè)、電子通訊、航天新能源、五金衛(wèi)浴、電器設(shè)備
汽車制造、磁性材料、貴金屬電鍍、高校及科研院所等
晶圓鍍層X射線熒光測厚儀超高硬件配置
采用Fast-SDD探測器,高達(dá)129eV分辨率,能精準(zhǔn)地解析每個元素的特征信號,針對復(fù)雜底材以及多層復(fù)雜鍍層,同樣可以輕松測試。
搭配大功率X光管,能很好的保障信號輸出和激發(fā)的穩(wěn)定性,減少儀器故障率。
高精度自動化的X、Y、Z軸的三維聯(lián)動,更精準(zhǔn)快速地完成對微小異型(如弧形、拱形、螺紋、球面等)測試點(diǎn)的定位。
晶圓鍍層X射線熒光測厚儀設(shè)計(jì)亮點(diǎn)
上照式設(shè)計(jì)，可適應(yīng)更多異型微小樣品的測試。相較傳統(tǒng)光路，信號采集效率提升2倍以上?？勺兘垢呔珨z像頭，搭配距離補(bǔ)正系統(tǒng)，滿足微小產(chǎn)品，臺階，深槽，沉孔樣品的測試需求?？删幊套詣游灰破脚_，微小密集型可多點(diǎn)測試，大大提高測樣效率。自帶數(shù)據(jù)校對系統(tǒng)。
晶圓鍍層X射線熒光測厚儀軟件界面
人性化的軟件界面，讓操作變得更加便捷。
曲線的中文備注，讓您的操作更易上手。
儀器硬件功能的實(shí)時監(jiān)控，讓您的使用更加放心。
